XPS/ICP-MS检测
XPS/ICP-MS检测
★服务概述
X 射线光电子能谱（XPS）与电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）是纳米载体表面与成分分析的强有力手段。XPS 可获得表面元素组成与化学态信息，ICP-MS 可实现痕量金属元素的精确定量。本服务面向无机/杂化纳米载体及金属配体的成分确证与定量（限科研用途）。
★技术原理
XPS 以 X 射线激发样品表面原子内层电子，测量其结合能，从而判断元素种类、含量与化学态（如 Fe²⁺/Fe³⁺、Au⁰/Au⁺），探测深度约数纳米，适合表面修饰分析。ICP-MS 将样品消解后雾化电离，按质荷比检测，具有 ppt–ppb 级灵敏度，适合定量铁、金、银、钆、铂等金属元素或标记元素含量。
★技术要点
- ◆样品要求：XPS 需干燥固体/薄膜；ICP-MS 需消解液或可消解样品。
- ◆表面 vs 体相：XPS 反映表面（数纳米），ICP-MS 反映总含量，二者互补。
- ◆化学态解析：峰位拟合判断氧化态与配位环境。
- ◆定量校准：ICP-MS 需标准曲线与内标校正。
- ◆适用对象：无机纳米粒、金属配体、造影元素等。
★服务内容与流程
- 1.样品接收与制备（干燥/消解）
- 2.XPS 表面分析（全谱 + 高分辨）
- 3.ICP-MS 元素定量
- 4.数据解析（元素、化学态、含量）
- 5.报告交付
★表征与测试指标
| 项目 | 典型指标 | 方法 |
|---|---|---|
| 表面元素 | 元素种类与相对含量 | XPS 全谱 |
| 化学态 | 氧化态/配位 | XPS 高分辨拟合 |
| 金属含量 | μg/mL 级定量 | ICP-MS |
| 标记元素 | 配体/造影元素定量 | ICP-MS |
★应用示例
- ◆氧化铁纳米粒：铁含量与表面氧化态分析。
- ◆金纳米粒：金含量与表面修饰元素确证。
- ◆金属配合物载体：金属配体负载量定量。
★送样与交付
请提供样品与目标元素；交付物包括 XPS 谱图与解析、ICP-MS 定量数据及报告。
★相关产品
可配套无机纳米材料与造影试剂，详见产品目录。
上海舜纳生物科技公司纳米医学研发中心 Sunlipo Biotech Research Center for Nanomedicine
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