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XPS 表征表面元素与化学态,ICP-MS 定量金属/配体含量,用于载体表面与成分确证。技术要点
- ●样品要求:XPS 需干燥固体/薄膜;ICP-MS 需消解液或可消解样品。
- ●表面 vs 体相:XPS 反映表面(数纳米),ICP-MS 反映总含量,二者互补。
- ●化学态解析:峰位拟合判断氧化态与配位环境。
- ●定量校准:ICP-MS 需标准曲线与内标校正。
















